晶圓熱電阻 Pt100Ω

高精度 RTD Wafer NEW

專為需要高精度溫度量測的製程設計，例如半導體光阻劑處理系統、晶圓探測器等設備。Wafer 上的 RTD 感測器、黏合與封裝材料，以及四線式量測，是穩定高精度的關鍵。

量測並記錄晶圓在裝載、升溫、穩定、冷卻與卸載各階段的溫度

優化晶圓工藝，為 SPC 系統提供數據

晶圓廠設備啟用、維修與升級後的重新鑑定測試

提供校正服務與應用分析軟體

詢問此產品 → 回到熱電阻

規格

告訴我們溫度範圍、安裝方式與尺寸，菘啟工程團隊將為您客製設計。